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    溫度沖擊試驗(yàn)箱即由位于上部的高溫試驗(yàn)箱、位于下部的低溫試驗(yàn)箱組成。在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)待測(cè)材料的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試。主要用于考核和確定電子電工、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高、低溫試驗(yàn)的溫度沖擊變化后的參數(shù)及性能。
1.高溫試驗(yàn)箱的要求，應(yīng)符合GJB150.3-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
2.低溫試驗(yàn)箱的要求，應(yīng)符合GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)》的第3章各條所規(guī)定的要求。
3.溫度沖擊試驗(yàn)箱提供高溫試驗(yàn)部分和低溫試驗(yàn)部分，應(yīng)分別符合GJB 150.3-86和GJB 150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
4.試驗(yàn)箱的容積應(yīng)保證在試驗(yàn)樣品放入后不超過(guò)試驗(yàn)溫度保持時(shí)間的10%就能使試驗(yàn)箱溫度達(dá)到GJB 150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗(yàn)條件容差范圍之內(nèi)。